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  • FR-Scanner自動化高速薄膜厚度測量儀

    薄膜厚度測量的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件:分光計、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此,在準確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。

    更新時間:2024-08-21
    型號:FR-Scanner
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:8436
  • FR-Mic全自動帶顯微鏡多點測量

    FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快速、準確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案,可以將光斑縮小到幾個微米,進而分析微小區(qū)域或者粗糙表面薄膜特征。

    更新時間:2024-03-19
    型號:FR-Mic
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:4975
  • FR-uProbe-LC光學(xué)顯微鏡適配器

    FR-uProbe-LC: 可測量小至幾微米的光斑尺寸應(yīng)用,例如微圖案表面、高粗糙度表面的樣品等等只需單擊鼠標(biāo)即可在 Vis/NIR波長范圍中測量微小區(qū)域薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率、透射率和吸光度

    更新時間:2024-04-08
    型號:FR-uProbe-LC
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:452
  • FR-Scanner-AIO-Mic-XY300

    FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 是一款整合自動薄膜厚度測繪系統(tǒng),用于全自動圖案化晶圓上的單層和多層涂層厚度測量。電動X-Y載物臺提供適用尺寸 300mm x 300mm毫米的行程,通過真空固定在載臺上時進行精確測量??梢罍y量厚度和波長范圍應(yīng)用需求可在在 200-1700nm 光譜范圍內(nèi)提供各種光學(xué)配置

    更新時間:2024-04-08
    型號:
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:539
  • FR-Mic:全自動帶顯微鏡多點測量膜厚儀

    硬化涂層膜厚儀是一款快速、準確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案,要求的光斑尺寸小到幾個微米,如微圖案表面,粗糙表面及許多其他表面。

    更新時間:2024-03-19
    型號:
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:729
  • FR-pRo:Thetametrisis膜厚測量儀

    Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學(xué)測量設(shè)備,用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。

    更新時間:2024-03-19
    型號:
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:835
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