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正確使用光學(xué)厚度測(cè)量?jī)x需遵循以下5個(gè)步驟

更新時(shí)間:2023-04-24  |  點(diǎn)擊率:829
  光學(xué)厚度測(cè)量?jī)x是一種用于測(cè)量物體的厚度、膜層厚度和光學(xué)性質(zhì)的設(shè)備。它基于光學(xué)原理,利用光的反射或透射特性來(lái)測(cè)量不同材料的厚度。
 

 

  正確使用光學(xué)厚度測(cè)量?jī)x需要遵循以下步驟:
  1.準(zhǔn)備工作:將設(shè)備放置在水平表面上,并打開(kāi)儀器電源;
  2.校準(zhǔn)儀器:對(duì)于新設(shè)備,首先需要進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)時(shí)應(yīng)選擇一個(gè)已知光學(xué)厚度的參考樣品,將其放入設(shè)備中,并按照儀器的說(shuō)明書進(jìn)行操作。在校準(zhǔn)過(guò)程中,應(yīng)檢查儀器是否能夠正確讀取樣品的厚度值;
  3.放置待測(cè)物體:將待測(cè)物體放入設(shè)備中,注意使其與設(shè)備表面保持垂直。如果要測(cè)量薄膜的厚度,則需將薄膜放置在清潔、平整的基片上;
  4.測(cè)量:?jiǎn)?dòng)測(cè)量程序,等待設(shè)備自動(dòng)識(shí)別樣品并測(cè)量。在此期間,應(yīng)確保樣品與設(shè)備表面始終保持穩(wěn)定,以免影響測(cè)量結(jié)果;
  5.記錄結(jié)果:測(cè)量完成后,讀取并記錄設(shè)備顯示的結(jié)果。對(duì)于需要多次測(cè)量的樣品,應(yīng)進(jìn)行多次測(cè)量并計(jì)算平均值。
 
  需要注意的是,在使用光學(xué)厚度測(cè)量?jī)x時(shí),還需遵守以下注意事項(xiàng):
  1.保持設(shè)備干燥、清潔:由于測(cè)量精度較高,設(shè)備表面的灰塵、污垢會(huì)影響測(cè)量結(jié)果,因此應(yīng)定期清潔設(shè)備表面;
  2.避免過(guò)度壓縮樣品:在放置待測(cè)物體時(shí),應(yīng)輕輕放置,以免過(guò)度壓縮樣品導(dǎo)致誤差;
  3.注意溫度變化:由于溫度變化會(huì)導(dǎo)致物體的膨脹或收縮,因此在連續(xù)測(cè)量不同樣品時(shí),應(yīng)等待設(shè)備恢復(fù)到穩(wěn)定溫度后再進(jìn)行下一次測(cè)量。
 
  總之,正確使用光學(xué)厚度測(cè)量?jī)x需要遵循一定的操作規(guī)程,并注意設(shè)備的維護(hù)和保養(yǎng),以確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。